孔隙率测试新手段——SEM 图像法
一般情况下材料的孔隙率可以通过压汞法、比表面积法（BET）来进行测试，空隙大小可以是微米，纳米大小的孔径，今天我们介绍另外一种办法，SEM（TEM）的图像法来测试孔隙率。
图像法测试孔隙率的原理是通过计算SEM（或TEM）图片上孔隙结构的面积与整体面积的比值来得出的。这听起来很简单，就像是计算面积一样。然而，在实际操作中，尤其是当孔径不规则且无规律分布时，事情就变得复杂了。因此，我们需要借助更专业的图像分析方法和工具，如灰阶法，来确保结果的准确性。具体如下所示：
面对（左图）多孔结构材料的SEM图片，其上密布着大小不一、形状不规则的小孔，可采用灰阶法进行处理分析。灰阶法是一种有效的图像分析方法，特别适用于处理具有复杂孔隙结构的SEM图片，步骤如下：
图像转换：将SEM图片转换为灰阶图像，使不同灰度值代表不同的孔隙大小或材料密度。
设定阈值：设定合适的灰度阈值，以区分孔隙和材料基质，便于后续分析。
孔隙识别与测量：利用图像处理软件识别孔隙，并测量其大小、形状等参数。
数据分析：对孔隙参数进行统计分析，以评估多孔材料的性能和应用潜力。
如上图所示SEM图像的成像方式，图中实际上为黑白，根据颜色深浅来实现图像显示，并且孔隙部分的颜色都很深。因此我们根据计算机的显示方式，按照统计像素的办法，从浅到深统计好所有的像素，再选择孔隙部分的像素占总像素的比例即可计算出孔隙率。
如下图（图1）即是通过计算机模拟出来的孔隙部分的像素（红色部分），然后通过像素统计结果（如图2）即为红色部分的孔隙像素总数,求出孔隙率即可。
通过图像法测试孔隙率具有诸多优势，如简单、直观以及微区针对性。这种方法不仅可以直接观测到孔隙的大小，还能对特殊结果进行局部的孔隙分析。通过灰阶选择不同大小的孔隙进行统计，图像法展现出了灵活多变的特点，使我们能够更深入地了解多孔材料的微观结构。
说明：以上内容由作者整理发布，如有侵权请联系作者删除！
欢迎关注，共同探讨交流！
